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SuperViewW1 玻璃表面粗糙度測量儀數(shù)秒內(nèi)即可獲得平面和曲面表面上測量所有常見的粗糙度參數(shù)。其載物臺XY行程為140*110mm（可擴展），Z向測量范圍可達10mm，在測量大尺寸的樣品時，可以選擇拼接測量（拼接精度在橫向上和載物臺橫向位移精度一致，可達0.1um）。

W1光學(xué)3d表面輪廓儀器采用白光干涉技術(shù)，結(jié)合具有優(yōu)異抗噪性能的3D重建算法，真實還原樣品的每一個細節(jié)，隨意翻轉(zhuǎn)縮放，都能輕松觀察、測量樣品的任意特征。

中圖光學(xué)輪廓測量儀直觀的操作界面，讓您對操作流程一目了然，自動聚焦，助您一鍵實現(xiàn)測量過程；可視化的工作流程樹，一鍵激活的圖庫管理功能，所見即所得的分析功能，有一鍵分析功能，批量測量不用愁。

SuperViewW1光學(xué)鏡片表面輪廓儀采用了掃描模塊和內(nèi)部抗振設(shè)計，可實現(xiàn)高0.05%的測量精度重復(fù)性和0.002nm的粗糙度RMS重復(fù)性，詮釋始終如一的測量品質(zhì)。

中圖儀器光學(xué)表面輪廓檢測儀可以測到12mm，也可以測到更小的尺寸，XY載物臺標準行程為140*110mm，局部位移精度可達亞微米級別，鏡頭的橫向分辨率數(shù)值可達0.4um，Z向掃描電機可掃描10mm范圍，縱向分辨率可達0.1nm級別，因此可測非常微小尺寸的器件。

中圖儀器SuperViewW系列三維光學(xué)表面輪廓儀分辨率可達0.1nm，測量單個精密器件的過程用時2分鐘以內(nèi)，確保了高款率檢測?？梢詮V泛適用于從光滑到粗糙等各種精密器件表面的測量。

SuperViewW1系列光學(xué)表面輪廓儀采用了掃描模塊和內(nèi)部抗振設(shè)計，可實現(xiàn)高0.05%的測量精度重復(fù)性和0.002nm的粗糙度RMS重復(fù)性，詮釋始終如一的測量品質(zhì)。

光學(xué)輪廓儀是以白光干涉技術(shù)原理，對各種精密器件表面進行納米級測量的儀器，通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌，專用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。