国产无码一区二区,丁香五月五月婷婷,亚洲日韩国产成人精品一区二区三区,久热精品在线观看

您好！歡迎訪問深圳市中圖儀器股份有限公司網(wǎng)站！
全國服務(wù)咨詢熱線：

18928463988

Products產(chǎn)品中心
首頁 > 產(chǎn)品中心 > 半導(dǎo)體專業(yè)檢測設(shè)備 > 晶圓形貌測量系統(tǒng)
  • WD4000無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)
    WD4000無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)

    WD4000無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚?；诎坠飧缮鎴D的光譜分析儀，通過數(shù)值七點相移算法計算，達到亞納米分辨率測量表面的局部高度，實現(xiàn)膜厚測量功能。

    時間：2024-05-13型號：訪問量：834
    查看詳情
共 41 條記錄，當前 6 / 6 頁  首頁  上一頁  下一頁  末頁  跳轉(zhuǎn)到第頁 
掃一掃，關(guān)注微信

版權(quán)所有 © 2024 深圳市中圖儀器股份有限公司 All Rights Reserved    備案號：粵ICP備12000520號    sitemap.xml    管理登陸    技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng)