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  • SuperViewW1輪廓度光學(xué)測(cè)量?jī)x
    SuperViewW1輪廓度光學(xué)測(cè)量?jī)x

    SuperViewW1輪廓度光學(xué)測(cè)量?jī)x是以白光干涉技術(shù)為原理,能以亞納米級(jí)精度測(cè)量從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量的光學(xué)檢測(cè)儀器??蓽y(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數(shù)。

    時(shí)間:2024-05-12型號(hào):SuperViewW1訪問(wèn)量:1211
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  • SuperViewW13D輪廓光學(xué)測(cè)量?jī)x
    SuperViewW13D輪廓光學(xué)測(cè)量?jī)x

    中圖儀器3D輪廓光學(xué)測(cè)量?jī)x測(cè)量大尺寸樣品時(shí)支持拼接功能,將測(cè)量的每一個(gè)小區(qū)域整合拼接成完整的圖像,拼接精度在橫向上和載物臺(tái)橫向位移精度一致,可達(dá)0.1um??蓽y(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數(shù)。

    時(shí)間:2024-05-12型號(hào):SuperViewW1訪問(wèn)量:1144
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  • SuperViewW1三維光學(xué)輪廓儀
    SuperViewW1三維光學(xué)輪廓儀

    在同等系統(tǒng)放大倍率下,以白光干涉技術(shù)為原理的SuperViewW1三維光學(xué)輪廓儀的檢測(cè)精度和重復(fù)精度都高于共聚焦顯微鏡和聚焦成像顯微鏡,在一些納米級(jí)和亞納米級(jí)超精密加工領(lǐng)域提供高精度檢測(cè)功能。

    時(shí)間:2024-05-12型號(hào):SuperViewW1訪問(wèn)量:1124
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  • SuperViewW1白光3D輪廓儀
    SuperViewW1白光3D輪廓儀

    中圖儀器SuperViewW1白光3D輪廓儀非接觸高精密測(cè)量方式,不會(huì)劃傷甚至破壞工件,且測(cè)量速度快,不必像探頭逐點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量。它以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,可測(cè)量各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數(shù)。

    時(shí)間:2024-05-12型號(hào):SuperViewW1訪問(wèn)量:1077
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  • SuperViewW13d三維光學(xué)輪廓儀
    SuperViewW13d三維光學(xué)輪廓儀

    中圖儀器3d三維光學(xué)輪廓儀能對(duì)各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺(tái)階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測(cè)量和分析。廣泛應(yīng)用于光學(xué),半導(dǎo)體,材料,精密機(jī)械等領(lǐng)域。

    時(shí)間:2024-05-12型號(hào):SuperViewW1訪問(wèn)量:1604
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  • SuperViewW1非接觸式3d光學(xué)輪廓儀
    SuperViewW1非接觸式3d光學(xué)輪廓儀

    ?中圖儀器非接觸式3d光學(xué)輪廓儀SuperViewW1能夠以優(yōu)于納米級(jí)的分辨率,測(cè)試各類表面并自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù),廣泛應(yīng)用于光學(xué),半導(dǎo)體,材料,精密機(jī)械等領(lǐng)域。非接觸高精密測(cè)量方式,不會(huì)劃傷甚至破壞工件,而且測(cè)量速度快,不必像探頭逐點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量。對(duì)高深寬比的溝槽結(jié)構(gòu),可以快速而準(zhǔn)確的得到理想的測(cè)量結(jié)果。

    時(shí)間:2024-05-12型號(hào):SuperViewW1訪問(wèn)量:1304
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  • 三維光學(xué)表面輪廓測(cè)量?jī)x
    三維光學(xué)表面輪廓測(cè)量?jī)x

    中圖儀器三維光學(xué)表面輪廓測(cè)量?jī)x對(duì)各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺(tái)階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測(cè)量和分析,可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中。

    時(shí)間:2024-05-12型號(hào):訪問(wèn)量:2644
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  • SuperViewW1OP光學(xué)輪廓儀
    SuperViewW1OP光學(xué)輪廓儀

    中圖儀器OP光學(xué)輪廓儀由照明光源系統(tǒng),光學(xué)成像系統(tǒng),垂直掃描系統(tǒng)以及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)構(gòu)成。是以白光干涉技術(shù)為原理,能夠以優(yōu)于納米級(jí)的分辨率,測(cè)試各類表面并自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù)的光學(xué)測(cè)量?jī)x器。

    時(shí)間:2024-05-12型號(hào):SuperViewW1訪問(wèn)量:1228
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