簡要描述:SuperViewW1光學(xué)形貌測量儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等,提供依據(jù)ISO/ASME/EUR/GBT四大國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)共計(jì)300余種2D、3D參數(shù)作為評價(jià)標(biāo)準(zhǔn)。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
品牌 | CHOTEST/中圖儀器 | 價(jià)格區(qū)間 | 20萬-35萬 |
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產(chǎn)品種類 | 接觸式輪廓儀/粗糙度儀 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,電子,冶金,航天,汽車 |
一、產(chǎn)品簡介
SuperView W1光學(xué)形貌測量儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量的檢測儀器。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測量的光學(xué)檢測儀器。
SuperView W1光學(xué)形貌測量儀可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中??蓽y各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等,提供依據(jù)ISO/ASME/EUR/GBT四大國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)共計(jì)300余種2D、3D參數(shù)作為評價(jià)標(biāo)準(zhǔn)。
二、產(chǎn)品功能
一體化操作的測量與分析軟件,操作無須進(jìn)行切換界面,預(yù)先設(shè)置好配置參數(shù)再進(jìn)行測量,軟件自動統(tǒng)計(jì)測量數(shù)據(jù)并提供數(shù)據(jù)報(bào)表導(dǎo)出功能,即可快速實(shí)現(xiàn)批量測量功能。
測量中提供自動多區(qū)域測量功能、批量測量、自動聚焦、自動調(diào)亮度等自動化功能。
測量中提供拼接測量功能。
分析中提供調(diào)整位置、糾正、濾波、提取四大模塊的數(shù)據(jù)處理功能,其中調(diào)整位置包括圖像校平、鏡像等功能;糾正包括空間濾波、修描、尖峰去噪等功能;濾波包括去除外形、標(biāo)準(zhǔn)濾波、過濾頻譜等功能;提取包括提取區(qū)域和提取剖面等功能。
分析中提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結(jié)構(gòu)分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能,其中粗糙度分析包括依據(jù)國際標(biāo)準(zhǔn)的ISO4287的線粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全參數(shù)分析功能;幾何輪廓分析包括臺階高、距離、角度、曲率等特征測量和直線度、圓度形位公差評定等功能;結(jié)構(gòu)分析包括孔洞體積和波谷深度等;頻率分析包括紋理方向和頻譜分析等功能;功能分析包括SK參數(shù)和體積參數(shù)等功能。
分析中同時(shí)提供一鍵分析和多文件分析等輔助分析功能,設(shè)置分析模板,結(jié)合測量中提供的自動測量和批量測量功能,可實(shí)現(xiàn)對小尺寸精密器件的批量測量并直接獲取分析數(shù)據(jù)的功能。
三、應(yīng)用領(lǐng)域
對各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測量和分析。
四、性能特色
1、高精度、高重復(fù)性
1)采用光學(xué)干涉技術(shù)、精密Z向掃描模塊和優(yōu)異的3D重建算法組成測量系統(tǒng),保證測量精度高;
2)隔振系統(tǒng)能夠有效隔離頻率2Hz以上絕大部分振動,消除地面振動噪聲和空氣中聲波振動噪聲,保障儀器在大部分的生產(chǎn)車間環(huán)境中也能穩(wěn)定使用,獲得高測量重復(fù)性;
2、一體化操作的測量分析軟件
1)測量與分析同界面操作,無須切換,測量數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計(jì),實(shí)現(xiàn)了快速批量測量的功能;
2)可視化窗口,便于用戶實(shí)時(shí)觀察掃描過程;
3)結(jié)合自定義分析模板的自動化測量功能,可自動完成多區(qū)域的測量與分析過程;
4)幾何分析、粗糙度分析、結(jié)構(gòu)分析、頻率分析、功能分析五大功能模塊齊全;
5)一鍵分析、多文件分析,自由組合分析項(xiàng)保存為分析模板,批量樣品一鍵分析,并提供數(shù)據(jù)分析與統(tǒng)計(jì)圖表功能;
6)可測依據(jù)ISO/ASME/EUR/GBT等標(biāo)準(zhǔn)的多達(dá)300余種2D、3D參數(shù)。
3、雙重防撞保護(hù)措施
除初級的軟件ZSTOP設(shè)置Z向位移下限位進(jìn)行防撞保護(hù)外,另在Z軸上設(shè)計(jì)有機(jī)械電子傳感器,當(dāng)鏡頭觸碰到樣品表面時(shí),儀器自動進(jìn)入緊急停止?fàn)顟B(tài),*大限度的保護(hù)儀器,降低人為操作風(fēng)險(xiǎn)。
4、精密操縱手柄
集成X、Y、Z三個(gè)方向位移調(diào)整功能的操縱手柄,可快速完成載物臺平移、Z向聚焦、找條紋等測量前工作。
5、雙通道氣浮隔振系統(tǒng)
既可以接入客戶現(xiàn)場的穩(wěn)定氣源也可以接入標(biāo)配靜音空壓機(jī),在無外接氣源的條件下也可穩(wěn)定工作。
五、技術(shù)指標(biāo):
1、技術(shù)規(guī)格表
光源 | 白光LED | ||
影像系統(tǒng) | 1024×1024 | ||
干涉物鏡 | 10×,(2.5×,5×, 20×,50×,100×) | ||
光學(xué)ZOOM | 0.5×(0.75×,1×) | ||
標(biāo)準(zhǔn)視場 | 0.98×0.98㎜ | ||
*大視場 | 6×6㎜ | ||
物鏡塔臺 | 3孔手動(5孔電動可選) | ||
XY位移平臺 | 尺寸 | 320×200㎜ | |
移動范圍 | 140×100㎜ | ||
負(fù)載 | 10kg | ||
控制方式 | 電動 | ||
水平調(diào)整 | ±5° | ||
Z軸 聚焦 | 行程 | 100㎜ | |
控制方式 | 電動 | ||
Z向掃描范圍 | 10 ㎜ | ||
Z向分辨率 | 0.1nm | ||
可測樣品反射率 | 0.05%~100% | ||
粗糙度RMS重復(fù)性 | 0.005nm | ||
臺階測量 | 準(zhǔn)確度 | 重復(fù)性 | |
0.3% | 0.08% 1σ |
注:粗糙度性能參數(shù)依據(jù)ISO 25178國際標(biāo)準(zhǔn)在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下測量Sa為0.2nm硅晶片Sq參數(shù)獲得;
臺階高性能參數(shù)為依據(jù)ISO 5436-1:2000標(biāo)準(zhǔn)在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下測量4.7µm臺階高標(biāo)準(zhǔn)塊獲得。
若非實(shí)驗(yàn)室環(huán)境,準(zhǔn)確度和重復(fù)性指標(biāo)需相應(yīng)下調(diào),具體需根據(jù)環(huán)境噪聲等級而定。
2.儀器尺寸(長×寬×高): 主機(jī):900×700×604㎜;
3.儀器主機(jī)重量:小于150Kg;
4.使用環(huán)境:無強(qiáng)磁場,無腐蝕氣體
工作溫度:15℃ ~30℃,溫度梯度 < 2℃/60分鐘
相對濕度:5%-95%RH,無凝露
環(huán)境振動:VC-C或更優(yōu)
隔振氣源:0.6Mpa穩(wěn)壓清潔氣源,除油、除水,氣管直徑6㎜(可無)
七、產(chǎn)品配置清單
1)標(biāo)準(zhǔn)配置:
SuperView W1主機(jī)
影像系統(tǒng):1024×1024
光學(xué)Zoom:0.5×
干涉物鏡:10×
XY位移載物臺:自動位移臺
DELL品牌計(jì)算機(jī)
4.7μm Z向校準(zhǔn)臺階塊
操縱手柄
中圖W1光學(xué)3D表面輪廓儀軟件
自動多區(qū)域測量、自動拼接測量功能模塊
電氣控制柜
TGY30-680-30L無油靜音空壓機(jī)
儀器配件箱
加壓充氣裝置一套
產(chǎn)品使用說明書
產(chǎn)品合格證、保修卡
2)可選配置:
干涉物鏡:2.5×、5×、20×、50×、100×
光學(xué)zoom:0.75 ×、1×;
真空吸附臺(尺寸可定制):4寸、6寸;
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