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  • VT6100高分辨率顯微鏡共聚焦光學(xué)系統(tǒng)
    VT6100高分辨率顯微鏡共聚焦光學(xué)系統(tǒng)

    VT6000高分辨率顯微鏡共聚焦光學(xué)系統(tǒng)以轉(zhuǎn)盤共聚焦光學(xué)系統(tǒng)為基礎(chǔ),基于光學(xué)共軛共焦原理,結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和3D重建算法,共同組成高精度測量系統(tǒng)。能在樣品表面進(jìn)行快速點(diǎn)掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點(diǎn)并重建出3D真彩圖像,從而進(jìn)行分析。

    時(shí)間:2024-07-23型號:VT6100訪問量:640
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  • NS200薄膜厚度臺階測量儀
    NS200薄膜厚度臺階測量儀

    中圖儀器NS系列薄膜厚度臺階測量儀集成了超低噪聲信號采集、超精細(xì)運(yùn)動(dòng)控制、標(biāo)定算法等核心技術(shù),具備超高的測量精度和測量重復(fù)性。它主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測量。

    時(shí)間:2024-07-17型號:NS200訪問量:417
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  • SuperViewW1納米級高精度白光干涉測厚儀
    SuperViewW1納米級高精度白光干涉測厚儀

    中圖儀器SuperViewW納米級高精度白光干涉測厚儀的復(fù)合型EPSI重建算法,解決了傳統(tǒng)相移法PSI掃描范圍小、垂直法VSI精度低的雙重缺點(diǎn)。在自動(dòng)拼接模塊下,只需要確定起點(diǎn)和終點(diǎn),即可自動(dòng)掃描,重建其超光滑的表面區(qū)域,不見一絲重疊縫隙。

    時(shí)間:2024-06-14型號:SuperViewW1訪問量:461
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  • NS200接觸式臺階儀測膜厚儀
    NS200接觸式臺階儀測膜厚儀

    NS系列接觸式臺階儀測膜厚儀超精密接觸式測量微觀輪廓,主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測量。能夠測量納米到330μm甚至1000μm的臺階高度,可以準(zhǔn)確測量蝕刻、濺射、SIMS、沉積、旋涂、CMP等工藝期間沉積或去除的材料。

    時(shí)間:2024-07-17型號:NS200訪問量:420
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  • VT6100微米級工件共聚焦3d測量顯微鏡
    VT6100微米級工件共聚焦3d測量顯微鏡

    VT6000微米級工件共聚焦3d測量顯微鏡基于光學(xué)共軛共焦原理,以轉(zhuǎn)盤共聚焦光學(xué)系統(tǒng)為基礎(chǔ),能在樣品表面進(jìn)行快速點(diǎn)掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點(diǎn)并重建出3D真彩圖像,從而進(jìn)行分析。一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測,可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數(shù)。

    時(shí)間:2024-06-12型號:VT6100訪問量:400
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  • NS200接觸式表面形貌臺階測量儀
    NS200接觸式表面形貌臺階測量儀

    NS系列接觸式表面形貌臺階測量儀用于測量臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù),是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀器。它采用了線性可變差動(dòng)電容傳感器LVDC,具備超微力調(diào)節(jié)的能力和亞埃級的分辨率。

    時(shí)間:2024-07-18型號:NS200訪問量:367
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  • SuperViewW1中圖精密白光干涉儀
    SuperViewW1中圖精密白光干涉儀

    SuperViewW中圖精密白光干涉儀基于白光干涉技術(shù)原理,結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量,可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

    時(shí)間:2024-06-07型號:SuperViewW1訪問量:416
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  • VT6100材料表征3d共聚焦形貌顯微鏡
    VT6100材料表征3d共聚焦形貌顯微鏡

    中圖儀器VT6000材料表征3d共聚焦形貌顯微鏡基于光學(xué)共軛共焦原理,結(jié)合精密縱向掃描,通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,可以獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測量。

    時(shí)間:2024-07-04型號:VT6100訪問量:513
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