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  • VT6100材料3D觀察測(cè)量共聚焦顯微鏡
    VT6100材料3D觀察測(cè)量共聚焦顯微鏡

    VT6000材料3D觀察測(cè)量共聚焦顯微鏡基于光學(xué)共軛共焦原理,在相同物鏡放大的條件下,共焦顯微鏡所展示的圖像形態(tài)細(xì)節(jié)更清晰更微細(xì),橫向分辨率更高。它具有直觀測(cè)量的特點(diǎn),能夠有效提高工作效率,更加快捷準(zhǔn)確地完成日常任務(wù)。

    時(shí)間:2024-10-22型號(hào):VT6100訪問(wèn)量:174
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  • CEM3000系列大空間適用性臺(tái)式掃描電鏡
    CEM3000系列大空間適用性臺(tái)式掃描電鏡

    CEM3000大空間適用性臺(tái)式掃描電鏡無(wú)需占據(jù)大量空間來(lái)容納整個(gè)電鏡系統(tǒng),這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上,在用戶手邊實(shí)時(shí)呈現(xiàn)所得結(jié)果。其抗振設(shè)計(jì),在充滿機(jī)械振動(dòng)和噪音的工業(yè)環(huán)境中依舊穩(wěn)如泰山,拍攝出清晰、高分辨率的圖像。

    時(shí)間:2024-10-22型號(hào):CEM3000系列訪問(wèn)量:167
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  • NS200高精度薄膜臺(tái)階測(cè)量?jī)x
    NS200高精度薄膜臺(tái)階測(cè)量?jī)x

    NS系列高精度薄膜臺(tái)階測(cè)量?jī)x是一款超精密接觸式微觀輪廓測(cè)量?jī)x器,主要用于臺(tái)階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測(cè)量。在膜厚測(cè)量方面,它是利用光學(xué)干涉原理,通過(guò)測(cè)量膜層表面的臺(tái)階高度來(lái)計(jì)算出膜層的厚度,具有測(cè)量精度高、測(cè)量速度快、適用范圍廣等優(yōu)點(diǎn)。

    時(shí)間:2024-10-18型號(hào):NS200訪問(wèn)量:200
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  • VT6100光學(xué)顯微共聚焦顯微鏡
    VT6100光學(xué)顯微共聚焦顯微鏡

    VT6000光學(xué)顯微共聚焦顯微鏡基于光學(xué)共軛共焦原理,結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,可測(cè)各類(lèi)包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

    時(shí)間:2024-10-16型號(hào):VT6100訪問(wèn)量:219
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  • SuperViewW1納米級(jí)白光干涉三維測(cè)量?jī)x
    SuperViewW1納米級(jí)白光干涉三維測(cè)量?jī)x

    SuperViewW納米級(jí)白光干涉三維測(cè)量?jī)x具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短,確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。

    時(shí)間:2024-10-14型號(hào):SuperViewW1訪問(wèn)量:330
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  • CEM3000國(guó)內(nèi)高分辨力臺(tái)式掃描電鏡
    CEM3000國(guó)內(nèi)高分辨力臺(tái)式掃描電鏡

    CEM3000系列國(guó)內(nèi)高分辨力臺(tái)式掃描電鏡在工業(yè)領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用價(jià)值。它用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測(cè)和分析,標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng),能滿足用戶對(duì)多類(lèi)型樣品的觀測(cè)需求,實(shí)現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。

    時(shí)間:2024-10-14型號(hào):CEM3000訪問(wèn)量:269
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  • CEM3000國(guó)產(chǎn)鎢燈絲高分辨率臺(tái)式掃描電鏡
    CEM3000國(guó)產(chǎn)鎢燈絲高分辨率臺(tái)式掃描電鏡

    CEM3000系列國(guó)產(chǎn)鎢燈絲高分辨率臺(tái)式掃描電鏡不僅擁有強(qiáng)大的抗振性能和高效的工業(yè)應(yīng)用能力,而且操作靈活和成像質(zhì)量可靠。它的抗振設(shè)計(jì)在充滿機(jī)械振動(dòng)和噪音的工業(yè)環(huán)境中依舊穩(wěn)如泰山,拍攝出清晰、高分辨率的圖像。

    時(shí)間:2024-10-11型號(hào):CEM3000訪問(wèn)量:345
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  • VT6100共聚焦表面粗糙度多功能測(cè)量顯微鏡
    VT6100共聚焦表面粗糙度多功能測(cè)量顯微鏡

    VT6000共聚焦表面粗糙度多功能測(cè)量顯微鏡主要應(yīng)用于半導(dǎo)體、光學(xué)膜材、顯示行業(yè)、超精密加工等諸多領(lǐng)域中的微觀形貌和輪廓尺寸檢測(cè)中,其次是對(duì)表面粗糙度、面積、體積等參數(shù)的檢測(cè)中。

    時(shí)間:2024-10-09型號(hào):VT6100訪問(wèn)量:322
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